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　　泰克SiC性能評估整體測試解決方案，為汽車檢測認證護航！

　　近年來，在國家“雙碳”戰(zhàn)略指引下，汽車行業(yè)油電切換提速，截至2022年，新能源汽車滲透率已經超過25%。汽車電動化浪潮中，半導體增量主要來自于功率半導體，根據(jù)Strategy Analytics，功率半導體在汽車半導體中的占比從傳統(tǒng)燃油車的21%提升至純電動車的55%，躍升為占比大的半導體器件。

　　應對SiC帶來的測試驗證挑戰(zhàn)

　　同其他車用電子零部件一樣，車規(guī)級功率半導體也須通過AEC-Q100認證規(guī)范所涵蓋的7大類別41項測試要求。對于傳統(tǒng)的硅基半導體器件，業(yè)界已經建立了一套成熟有效的測試評估流程。而對于近兩年被普遍應用于開發(fā)800V超充技術的三代半導體碳化硅（SiC）材料而言，由于其面世時間較短，缺陷暴露不充分，失效機理不清晰，對其進行科學有效的評估和驗證至關重要。

　　為了幫助產業(yè)更好的應對SiC所帶來的測試驗證挑戰(zhàn)，各大汽車檢測認證機構正逐步建立起符合AEC-Q100認證規(guī)范要求的完整SiC器件/模塊測試評估能力；而動態(tài)可靠性測試作為整個評估體系的重要一環(huán)，往往是機構在搭建相關驗證能力時所關注的焦點。泰克作為全球領先的測試測量設備商，針對SiC器件/模塊可提供以下全流程測試驗證解決方案，相關方案已被各大汽車檢測認證機構廣泛采用，備受好評。

　　SiC器件動態(tài)特性測試系統(tǒng)-DPT1000A

　　DPT1000A功率器件動態(tài)測試系統(tǒng)由泰克科技領銜開發(fā)，專門用于針對三代半導體功率器件的動態(tài)特性分析測試，旨在解決客戶在功率器件動態(tài)特性表征中常見的疑難問題，包括如何設計高速工作的驅動電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進行信號測試，如何優(yōu)化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發(fā)設計和試產階段，快速評估器件性能，更快應對市場需求改善產品性能。

　　系統(tǒng)主要特點

　　?定制化系統(tǒng)設計,豐富的硬件配置和高靈活性的驅動電路

　　?自動化測試軟件，測試功能豐富,可以自動配置參數(shù)，測試和生成數(shù)據(jù)報告

　　?高帶寬/高分辨率測試設備,在高速開關條件下準確表征功率器件

　　?覆蓋高壓、中壓、低壓、pmos、GaN等不同類型，不同封裝芯片測試

　　?可以提供單脈沖、雙脈沖、反向恢復、Qg、短路測試、雪崩參數(shù)、RBSOA等測試功能

　　SiC器件動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)

　　HTXB-1000D動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)針對以SiC/GaN為首的新型三代半導體功率器件，根據(jù)其特有的器件結構和失效機理，在加速老化條件下，有針對性的施加特定壓力條件（包括靜態(tài)壓力和動態(tài)壓力），用以測試功率器件器件的漏流指標，以及其他典型特性參數(shù)（例如閾值開啟電壓，導通電阻等關鍵指標），以表征器件的老化特性和工作壽命。可以讓器件生產廠商和器件使用者在較短時間內了解新型功率器件的老化特性，以及長期使用條件下的性能變化，為器件實際應用過程中可能出現(xiàn)的故障進行預判和分析。

　　該動靜態(tài)壓力綜合老化測試系統(tǒng)用于批量SiC/GaN器件老化測試，通過測試數(shù)據(jù)可以研究SiC/GaN器件的典型參數(shù)在不同壓力條件下的變化特性，幫助客戶了解器件可靠性相關信息并表征老化特性。