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簡要介紹

       PID 效應(yīng)(Potential Induced Degradation)又稱電勢誘導(dǎo)衰減，是電池組件封裝材料和其上表面及下表面的材料，電池片與其接地金屬邊框之間的高電壓作用下出現(xiàn)離子遷移，而造成組件性能衰減的現(xiàn)象。本系統(tǒng)通過長期監(jiān)測其漏電流的情況，確保組件在達(dá)到一定的性能衰減后提出報(bào)警，測試出組件的使用壽命水平，使其能保證組網(wǎng)的安全運(yùn)行。PID的測試標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)IEC62804 光伏組件性能測試標(biāo)準(zhǔn)、IEC61215、IEC61730光伏組件安全測試標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合而成。