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在實驗室和晶圓測試環(huán)境中測試 Si、SiC 和 GaN MOSFET，確保安全、精準和快速。了解在設計中采用 SiC 和 GaN 導致的測試挑戰(zhàn)以及如何解決它們的更多信息。了解如何大幅度降低終產(chǎn)品的功耗和大幅度延長電池壽命。縮短設計的上市時間。
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