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如何選擇合適的SMU型號?

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2024-08

如何進行IV曲線的精確測量?

如何進行IV曲線的精確測量?可以提高IV曲線測量的精確度。需要注意的是,精確測量不僅依賴于設(shè)備和方法的正確使用,還依賴于操作者的技術(shù)和經(jīng)驗。
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2024-08

什么是半導(dǎo)體器件IV曲線掃描?

什么是半導(dǎo)體器件IV曲線掃描?半導(dǎo)體器件的IV曲線掃描是一種重要的測試方法,用于分析半導(dǎo)體器件的特性。
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2024-08

大功率LED測試的方面和方法有哪些?

大功率LED測試的方面和方法有哪些?大功率LED測試是一個綜合性的過程,旨在評估LED的性能、可靠性以及在不同條件下的表現(xiàn)。
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2024-08

測量IGBT模塊動態(tài)參數(shù)的設(shè)備有哪些?

測量IGBT模塊動態(tài)參數(shù)的設(shè)備有哪些?測量IGBT(絕緣柵雙極型晶體管)模塊動態(tài)參數(shù)的設(shè)備主要包括IGBT模塊動態(tài)參數(shù)測試儀。這些設(shè)備在IGBT模塊的研發(fā)和制造過程中起著至關(guān)重要的作用,用于確保IGBT模塊的性能和質(zhì)量。
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2024-08

igbt測試設(shè)備有哪些應(yīng)用?

igbt測試設(shè)備有哪些應(yīng)用?IGBT測試設(shè)備是電力電子行業(yè)中用于測試和評估功率半導(dǎo)體器件(特別是IGBT模塊)性能的重要工具。這些設(shè)備能夠模擬實際工況,對IGBT模塊進行多種測試,以確保其性能和質(zhì)量。
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2024-08

納米線和納米管I-V測量方案:Keithley的4200-SCS半導(dǎo)體表征系統(tǒng)和Zyvex S100納米驅(qū)動器

在當(dāng)代半導(dǎo)體及下一代納米電子和材料,如單壁碳納米管(SWNT)中,很難用電子的方法來表征非常小的電路元件。許多探針臺需要產(chǎn)品較大的金屬引腳,而使用光學(xué)顯微鏡的手動機械探針臺不能很好表征材料性能。由于標(biāo)準(zhǔn)柵極尺寸小于90nm,空間預(yù)算不斷縮小,大多數(shù)探針系統(tǒng)所需的最小探針臺的引腳尺寸保持固定在50微米左右。這種限制很大程度上受限于由于探頭運動的不準(zhǔn)確和探針尖的尺寸。
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2024-08

激光二極管測試有哪些方面?

激光二極管測試主要包括功率-電流-電壓曲線測試、功率穩(wěn)定性測試、光譜測試、溫度-電流-波長調(diào)諧曲線測試等多方面的檢測。這些測試旨在全面評估激光二極管的性能,確保其符合出廠標(biāo)準(zhǔn)。   首先,功率-電流-電壓曲線測試是繪制激光二極管輸出功率與驅(qū)動電流的變化關(guān)系(P-I)以及電壓與驅(qū)動電流的伏安曲線(V-I)。這一測試使用CTL200數(shù)字蝶形激光控制器進行,該設(shè)備結(jié)合了低噪聲電流驅(qū)動器與調(diào)制和溫度控制器,適用于在各種溫度條件下運行。   其次,功率穩(wěn)定性測試衡量激光二極管輸……
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2024-08

MEMS器件如何測試?

MEMS器件如何測試?MEMS器件的測試需要通過專門的測試系統(tǒng)來進行,這些系統(tǒng)可以測量關(guān)鍵的動靜態(tài)參數(shù),并模擬各種物理條件來評估器件的性能。
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2024-08

什么是MEMS芯片測試?

什么是MEMS芯片測試?MEMS芯片測試需要使用高級自動化測試設(shè)備和系統(tǒng),以確保準(zhǔn)確的性能評估和功能驗證。
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2024-08

太陽能電池檢測需要哪些設(shè)備?

太陽能電池檢測需要哪些設(shè)備?太陽能電池檢測需要的設(shè)備包括太陽能模擬器、IV測試系統(tǒng)、光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)、絕緣電阻測試儀、紅外熱像儀等。這些設(shè)備共同協(xié)作,完成對太陽能電池從光電轉(zhuǎn)換效率到工作狀態(tài)的全面檢測。
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2024-08

光功率計的測量精度如何?

光功率計的測量精度如何?光功率計的測量精度取決于多個因素,包括儀器的制造質(zhì)量、設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)、使用的傳感器類型以及校準(zhǔn)情況。
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2024-08

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