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什么是單管igbt靜態(tài)測(cè)試?
深圳市萬(wàn)博儀器儀表有限公司| 2024-09-20|返回列表
       單管IGBT(絕緣柵雙極型晶體管)靜態(tài)測(cè)試主要是為了評(píng)估IGBT在靜態(tài)條件下的電氣特性,確保其在應(yīng)用中能夠可靠地工作。以下是單管IGBT靜態(tài)測(cè)試的一些主要步驟和參數(shù):


  1.測(cè)試準(zhǔn)備


  確保測(cè)試設(shè)備(如電源、示波器、測(cè)試儀等)準(zhǔn)確校準(zhǔn)。


  準(zhǔn)備測(cè)試電路,包括待測(cè)IGBT、驅(qū)動(dòng)電路、保護(hù)電路等。


  確認(rèn)IGBT的型號(hào)和參數(shù)。


  2.主要測(cè)試參數(shù)


  VGE(th):門極閾值電壓,即IGBT開始導(dǎo)通時(shí)的門極電壓。


  VCE(sat):飽和壓降,即IGBT導(dǎo)通時(shí)集電極和發(fā)射極之間的壓降。


  ICES:集電極-發(fā)射極漏電流,即在門極電壓為零時(shí),集電極和發(fā)射極之間的漏電流。


  IGES:門極-發(fā)射極漏電流,即在集電極和發(fā)射極之間施加額定電壓時(shí),門極和發(fā)射極之間的漏電流。


  td(on):開通延遲時(shí)間,即從門極電壓達(dá)到額定值到集電極電流達(dá)到其10%所需的時(shí)間。


  td(off):關(guān)斷延遲時(shí)間,即從門極電壓下降到額定值到集電極電流下降到其90%所需的時(shí)間。


  3.測(cè)試步驟


  測(cè)量VGE(th):


  在集電極和發(fā)射極之間施加一個(gè)固定的偏置電壓。


  逐漸增加門極電壓,測(cè)量集電極電流。


  找到集電極電流開始明顯上升的門極電壓值,即為VGE(th)。


  測(cè)量VCE(sat)和ICES:


  在門極和發(fā)射極之間施加一個(gè)固定的驅(qū)動(dòng)電壓。


  增加集電極電流至額定值,測(cè)量此時(shí)的VCE(sat)。


  在門極電壓為零的情況下,測(cè)量集電極和發(fā)射極之間的漏電流ICES。


  測(cè)量IGES:


  在集電極和發(fā)射極之間施加額定電壓。


  測(cè)量門極和發(fā)射極之間的漏電流IGES。


  測(cè)量開關(guān)時(shí)間(td(on)和td(off)):


  通過(guò)快速切換門極電壓,使用示波器觀察集電極電流的變化。


  測(cè)量開通和關(guān)斷延遲時(shí)間。


  4.測(cè)試注意事項(xiàng)


  測(cè)試時(shí)應(yīng)保證環(huán)境溫度穩(wěn)定。


  避免在測(cè)試過(guò)程中造成IGBT的損壞。


  所有測(cè)試應(yīng)在規(guī)定的測(cè)試條件下進(jìn)行,以保證數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。


  通過(guò)上述測(cè)試,可以全面了解單管IGBT的靜態(tài)特性,為IGBT的應(yīng)用提供重要的參考數(shù)據(jù)。在測(cè)試過(guò)程中應(yīng)嚴(yán)格遵循相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

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